線通訊設(shè)備提供無(wú)干擾的測(cè)試環(huán)境的設(shè)備。

二是防止外部的輻射電磁能進(jìn)入某一區(qū)域。

射頻測(cè)試工藝通常是手機(jī)等無(wú)線通訊類設(shè)備產(chǎn)線中為復(fù)雜、影響大的流程，通常也是產(chǎn)線的瓶頸。射頻測(cè)試站通常由測(cè)試儀表、屏蔽箱、測(cè)試軟件等幾部分構(gòu)成，通常又可分為校準(zhǔn)測(cè)試、綜合測(cè)試、天線測(cè)試等等幾類。由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測(cè)試工藝由多個(gè)相同的測(cè)試站并行運(yùn)行。某個(gè)或某些測(cè)試工位的通過(guò)率偏低；產(chǎn)出降低就會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產(chǎn)品設(shè)計(jì)或物料原因、測(cè)試的問(wèn)題（誤測(cè)問(wèn)題）、

電磁干擾/EMI 是整個(gè)電子領(lǐng)域目前必須面臨和克服的一個(gè)問(wèn)題，一般在無(wú)線通訊產(chǎn)品比如：手機(jī)、汽車防盜、無(wú)線網(wǎng)卡、無(wú)線路由器、無(wú)線耳機(jī)、藍(lán)牙耳機(jī)、wi-fi、wimax、數(shù)據(jù)卡、對(duì)講機(jī)、RFID 等等無(wú)線通訊類設(shè)備和無(wú)線通訊類模塊等在進(jìn)行板測(cè)、終測(cè)過(guò)程中，都是通過(guò)使用射頻測(cè)試屏蔽箱/RF Shield Box 來(lái)改善測(cè)試環(huán)境的。

–多種測(cè)試流程的整合，簡(jiǎn)化流程目前使用屏蔽箱測(cè)試頻率多集中在300mhz~3Ghz 之間，超低頻和超高頻的射頻類產(chǎn)品也相繼增多，對(duì)屏蔽箱的屏蔽效果和測(cè)試處理方式提出了新的要求。

測(cè)試設(shè)備有：網(wǎng)絡(luò)分析儀（信號(hào)發(fā)生器+頻譜分析儀）、偶極子天線、喇叭天線、屏蔽箱。

屏蔽箱只有確保良好的導(dǎo)電連續(xù)性才能確保好的屏蔽效果，而屏蔽箱上下蓋接觸面對(duì)這點(diǎn)提出了新的要求，如果其他地方做的很好，接觸面沒(méi)有處理好，屏蔽箱的隔離度也會(huì)大幅下降。一般接觸面采用屏蔽條或者銅網(wǎng)、鈹銅彈片等處理。屏蔽條使用要確保表面光潔，避免有油污現(xiàn)象影響接觸效果。要注意保養(yǎng)或者定期更換。

格的原因所在。